第三代功率半导体器件动态可靠性测试系统
KC-3105 测试系统中可同时完成HTRB和DHTRB测试,整体架构模块化,通讯协议、通讯接口等采用统一标准,便于后期扩展和维护。该系统集成度高、应用覆盖面广,系统采用软、硬件一体化设计且功能丰富,在保证系统稳定运行的同时,可以快速满足功率半导体可靠性测试需求。