泰克为解决工程难题不断创新，使用测试界的魔法棒——光隔离探头，帮工程师一起破解SiC、GaN栅极动态测试难题。通过将探头与示波器的电流隔开，IsoVu探头完全改变了功率研究人员和设计人员进行宽禁带功率测量的方式。

SiC、GaN作为最新一代功率半导体器件具有远优于传统 Si 器件的特性，能够使得功率变换器获得更高的效率、更高的功率密度和更低的系统成本。但同时，SiC、GaN极快的开关速度也给工程师带来了使用和测量的挑战，稍有不慎就无法获得正确的波形，从而严重影响到器件评估的准确、电路设计的性能和安全、项目完成的速度。SiC、GaN动态特性测量中，最难的部分就是对半桥电路中上桥臂器件驱动电压VGS的测量，包括两个部分：开关过程和Crosstalk。此时是无法使用无源探头进行测量的，这会导致设备和人员危险，同时还会由于跳变的共模电压而无法获得准确的结果。

SiC、GaN作为最新一代功率半导体器件具有远优于传统 Si 器件的特性，能够使得功率变换器获得更高的效率、更高的功率密度和更低的系统成本。但同时，SiC、GaN极快的开关速度也给工程师带来了使用和测量的挑战，稍有不慎就无法获得正确的波形，从而严重影响到器件评估的准确、电路设计的性能和安全、项目完成的速度。SiC、GaN动态特性测量中，最难的部分就是对半桥电路中上桥臂器件驱动电压VGS的测量，包括两个部分：开关过程和Crosstalk。此时是无法使用无源探头进行测量的，这会导致设备和人员危险，同时还会由于跳变的共模电压而无法获得准确的结果。

IsoVu光隔离探头

隔离探头使用电（光学）或 RF隔离将探头的参考电压与示波器的参考电压（通常接地）隔离。这使电源设计人员能够在存在大共模电压的情况下准确解析高带宽、高电压的差分信号。泰克开发出一项新技术 (IsoVu)，该技术使用电隔离在高带宽内提供同类探头中优秀的共模抑制性能。

与用于测量高压信号的高带宽传统差分探头相比，隔离性和高频性相结合的 IsoVu 探头为电源设计人员提供更精确的测量结果。应用案例涵盖开关模式电源设计、宽禁带 GaN 和 SiC 设备的功率 FET 设计/分析、逆变器设计、电机驱动设计、BCI 或 ESD 测量、电流分流器测量。

泰克第二代IsoVu光隔离示波器探头推动第三代半导体发展，为电源行业带来技术革新。第二代IsoVu光隔离示波器探头提供了无与伦比的带宽、动态范围、共模抑制以及多功能MMCX连接器的组合，为上管Vgs测量设置了新的标准，设计者终于能看到以前隐藏的信号特征。

主要特性

•  1 GHz光隔离探头

•  更小的尺寸提升了DUT连接的便携性

•  行业领先的的CMRR特性

•  完全光隔离技术

•  完整测试系统

•  比第一代探头体积缩小80%。